微機電量測系統的白光干涉儀(White Light Interferometer)功能異常停用通知
公告日期:
2023/06/01
各位台灣半導體研究中心會員使用者您好:
微機電量測系統的白光干涉儀(White Light Interferometer)目前功能出現異常,即日起將暫停此項目的量測服務,待機台維修恢復正常,將再另行公告。
其他微機電量測系統之機台仍正常提供服務,有其他微機電量測機台使用需求者,仍可正常預約使用,謝謝。
若有任何疑問,請聯繫量測系統負責人:王怡仁 nick.wang@narlabs.org.tw
敬祝 研安
國家實驗室研究院台灣半導體研究中心 晶片實作組 謹上
微機電量測系統的白光干涉儀(White Light Interferometer)目前功能出現異常,即日起將暫停此項目的量測服務,待機台維修恢復正常,將再另行公告。
其他微機電量測系統之機台仍正常提供服務,有其他微機電量測機台使用需求者,仍可正常預約使用,謝謝。
若有任何疑問,請聯繫量測系統負責人:王怡仁 nick.wang@narlabs.org.tw
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