材料分析進階諮詢服務網頁
目的
台灣半導體研究中心(以下簡稱TSRI)為協助教授群共同從事前瞻材料分析技術開發，此計畫將提升學界優質材料分析服務，提升培育產業界所需中高階材料分析人才，並建立與學研界密切的聯結機制，提升台灣在材料分析檢測技術競爭優勢。合作對象
國內各公私立大專院校教授研究群、業界及法人。合作項目
| 分析儀器 | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| 場發射穿透式電子顯微鏡 (TEM) | X光繞射儀 (XRD) | 掃描式電子顯微鏡 (SEM) | |||
| 二次離子質譜儀 (SIMS) | 掃描探針顯微鏡 (SPM) | X光光電子能譜儀 (XPS) | |||
| 微觀富氏轉換紅外線儀 (Micro-FTIR) | 多模式原子力顯微鏡 (ICON) | 差分霍爾效應計量 (DHEM) | |||
| 奈米壓痕 (Nanoindenter) | 顯微拉曼光譜儀(Micro-Raman) | ||||
申請方式
1. 欲參加計畫的合作對象，須依規定填寫 「材料分析進階諮詢服務」申請表格 (格式如附件一) ，隨到隨審。
2. 經評估後通過則進行計畫討論及完成期限，未通過審查則退件或轉成一般案件處理 (如流程圖)。
執行方式
1.根據合作項目，將指派 研究員/工程師 洽談雙方合作項目、執行內容及預計費用。2.分析試片及MES委託單，需一併提供才能進行委託分析。
合作義務
1. 計畫結束後須投稿SNDCT(奈米元件電路與技術研討會/材料分析)發表執行成果。2.合作發表論文掛名或致謝台灣半導體研究中心
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