超低溫電性量測平台預計於113年1月開放申請使用(詳見附件說明)
超低溫電性量測平台開放公告
超低溫電性量測平台預計於113年1月開放申請使用，
可量測最低溫至4K的元件直流、電容、與S參數特性，
相關設備簡介與晶片布局規範詳見附件。
相關技術諮詢請洽陳博士03-5773693 ext.7570，bychen@narlabs.org.tw
超低溫電性量測平台開放公告
超低溫電性量測平台預計於113年1月開放申請使用，
可量測最低溫至4K的元件直流、電容、與S參數特性，
相關設備簡介與晶片布局規範詳見附件。
相關技術諮詢請洽陳博士03-5773693 ext.7570，bychen@narlabs.org.tw