本實驗室提供各式半導體及奈米元件所需之電性量測，除了基本的電流-電壓、電容-電壓、脈衝電流-電壓特性分析，以及可靠度測試等以外；亦提供低頻雜訊頻譜與隨機電報雜訊(RTS Noise)量測，協助元件之缺陷分析，另搭配CM300探針工作台可進行12吋晶圓Auto Mapping測試。

本服務項目下之機台包括IV&CV電性量測系統、奈米元件參數量測系統、元件低頻雜訊參數量測系統；其中IV&CV電性量測系統僅提供學生自行操作，不提供委託服務；另兩套系統則同時提供委託服務與自行操作。

委託操作注意事項

1. 欲了解委託操作流程與辦法，請點選：檢視委託操作流程與辦法
2. 即日起，請使用線上所提供最新版本的量測計劃書表格撰寫量測計劃。
3. 請於線上申請完成後一週內，將線上量測申請完成時所列印出來的申請表，請指導教授或單位主管簽章後，傳真一份至本實驗室。FAX：03-5733795。
4. 元件低頻雜訊/奈米元件量測系統其量測型態分為 On-wafer/On-wafer(mounted on PCB)/Others 三種。
5. 請參照各儀器設備的 Layout Rule 及注意事項，若不符合規定將無法量測。
6. 可量測待測物數目之上限為 60，且數目之算法以實際下針量測次數為準。例如：若需要兩種溫度之變溫量測，則可量測待測物數目之上限將為 60/2 = 30，以此類推。
7. 量測案件若因研究上的需要，可以不受上述規則所限制，唯申請者必須提供內容詳細且完整的量測計劃書，經本實驗室確認量測上的必要性與可行性後，方可進行量測。
8. 請確實規劃好量測內容，量測計劃書一旦傳真至本實驗室，將不接受任何的事後增改，除非重新進行量測申請。
9. 請勿針對相同元件/電路申請重複量測。如因出於實驗上的需要使然，請附加上次量測且分析過後的量測數據，供實驗室作重複量測必要性之審查。
10. 對於量測資料有任何疑問，可在量測時向工程師提出並討論之，請勿在事後提出補量測之請求。
11. 請量測申請者於排定的量測日期親自攜帶試片至本實驗室，以免元件受損。
12. 目前提供 BJT 元件及 FET 元件之標準偏壓型態分別為 Common-Emitter Configuration 及 Common-Source Configuration，若其他特殊量測需求請來電本實驗室。TEL：03-5773693 ext. 7607。
13. 申請量測時，請先確認欲量測的元件或電路可正常運作再送件。
14. 若申請人無故取消已排定之量測，該次量測申請將被刪除。

自行量測注意事項

1. 預約機台時，請儘量預約晚上的時段；白天的時段本實驗室工程師有優先使用權。
2. 預約白天時段者，請於預約當日至本實驗室與工程師進行機台交接相關事宜。
3. 預約晚上時段者，請於預約當日17:00前至本實驗室與工程師進行機台交接相關事宜。
4. 預約假日時段者，請於預約當日前一工作日17:00前至本實驗室與工程師進行機台交接相關事宜。
5. 請準時於預約時段使用機台，切勿無故遲到或不到。
6. 通過『設備考核表』檢驗的學生，始能使用考核過的儀器設備。
7. 嚴禁自行搬動任何儀器；若有需求者請提前洽詢儀器負責人。
8. 使用後請務必刷卡登出系統，並填寫『設備使用紀錄表』。
9. 一律使用本實驗室所提供之量測零件(如:轉接頭)；若自備量測零件，請事先告知儀器負責人。
10. SMA接頭轉接時，請使用 5 磅-英吋之扭力板手。
11. 若違背上述規定者，依『設備違規管理要點』懲處。