TAF 17025認證
材料量測分析有七項量測技術認證：
包括AFM階高量測、AFM 線距量測、TEM 線距量測、SEM 線距量測、SIMS 硼元素縱深分析、X 光繞射儀之相鑑定與X 光光電子能譜儀表面定性分析，已通過全國認證基金會（TAF）認可符合ISO/IEC 17025，提供相關測試服務，並持續提升量測技術能力與擴增認證項目。
包括AFM階高量測、AFM 線距量測、TEM 線距量測、SEM 線距量測、SIMS 硼元素縱深分析、X 光繞射儀之相鑑定與X 光光電子能譜儀表面定性分析，已通過全國認證基金會（TAF）認可符合ISO/IEC 17025，提供相關測試服務，並持續提升量測技術能力與擴增認證項目。
認證費用
TAF-ISO17025證書費: 學界 5,000元/份；業界 10,000 元/份。
認證流程
連繫窗口預約 → 廠商送測 → 測試量測 → 報告審查 → 繳費 → 取回樣品及報告
連絡窗口
周棟煥先生 分機: 7553 or 7424
e-mail: thchou@niar.org.tw
TAF 測試報告範本
(提供內部同仁送的案件，請連結開啟)