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台灣半導體研究中心

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材料分析進階諮詢服務網頁

目的

台灣半導體研究中心(以下簡稱TSRI)為協助教授群共同從事前瞻材料分析技術開發,此計畫將提升學界優質材料分析服務,提升培育產業界所需中高階材料分析人才,並建立與學研界密切的聯結機制,提升台灣在材料分析檢測技術競爭優勢。

合作對象

國內各公私立大專院校教授研究群、業界及法人。

合作項目

分析儀器
場發射穿透式電子顯微鏡 (TEM) X光繞射儀 (XRD) 顯微拉曼光譜儀(Micro-Raman)
二次離子質譜儀 (SIMS) 掃描探針顯微鏡 (SPM) X光光電子能譜儀 (XPS)
微觀富氏轉換紅外線儀 (Micro-FTIR) 多模式原子力顯微鏡  (ICON) 差分霍爾效應計量  (DHEM)
奈米壓痕  (Nanoindenter)    
* 其他前瞻材料分析檢測技術

申請方式

1. 欲參加計畫的合作對象,須依規定填寫 「材料分析進階諮詢服務」申請表格 (格式如附件一) ,隨到隨審。
2. 經評估後通過則進行計畫討論及完成期限,未通過審查則退件或轉成一般案件處理 (如流程圖)。



執行方式

1.根據合作項目,將指派 研究員/工程師 洽談雙方合作項目、執行內容及預計費用。
2.分析試片及MES委託單,需一併提供才能進行委託分析。



合作義務

1. 計畫結束後須投稿SNDCT(奈米元件電路與技術研討會/材料分析)發表執行成果。
2.合作發表論文掛名或致謝台灣半導體研究中心
檔案下載
附件一 材料分析進階諮詢服務申請表-20250401.pdf
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