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台灣半導體研究中心

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材料分析儀器列表

考核表下載:請至 儀器設備訓練申請

設備編號 設備名稱 設備簡介 聯絡窗口 開放等級 儀器位置
NM-005 離子減薄機  (PIPS) 下載 吳先生
7682,7408
B2 R203
NM-006 場發射穿透式電子顯微鏡  (TEM) 下載 吳先生
7682,7425
B3 R229
NM-008 X光繞射儀  (XRD) 下載 黃小姐
7773,7409
郭小姐
7780,7409
B2 R204
NM-013 二次離子質譜儀  (SIMS) 下載 黃先生
7561,7423
B4 R215
NM-015 X光光電子能譜儀  (XPS) 下載 余先生
7528,7423
B4 R215
NM-016 微觀富氏轉換紅外線儀  (Micro-FTIR) 下載 楊先生
7726
B2 R609B
NM-017 多模式原子力顯微鏡  (ICON) 下載 簡小姐
7577,7408
B3 R203
NM-018 差分霍爾效應計量  (DHEM) 下載 張先生
7502,7489
B4 R215
NM-019 奈米壓痕  (Nanoindenter) 下載 許小姐
7751,7488
B3 R229
NM-020 顯微拉曼光譜儀(Micro-Raman) 下載 楊先生
7726
B3 R609B
NM-021 高解析磊晶薄膜X光繞射儀  (HR-XRD) 下載 黃小姐
7773,7409
B2 R204
NM-022 原子針尖斷層影像儀(APT) 下載 楊小姐
7615,7496
B3 R221
NM-023 雷射聚焦離子束電子顯微鏡 (Laser FIB) 下載 周先生
7553,7408
B3 R203
NM-024 電漿式聚焦電子顯微鏡(PFIB) Download 許小姐
7751,7488
B3 R215
NM-025 晶片雷射切割機 (Laser Dicing) 下載 張先生
7502,7489
B2 R215

 
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