HF001奈米元件參數量測系統開放12” wafer mapping 量測項目
HF001奈米元件參數量測系統開放12” wafer mapping 量測項目
敬啟者
本中心HF001奈米元件參數量測系統即日起開放12吋晶圓IV & CV 委託量測服務，本服務同時可提供最大晶圓尺寸至12吋的 Wafer Mapping量測項目。
詳細量測規格請見設備說明
參考連結: https://bf.tsri.niar.org.tw/bs/Instrument/Index/HF-001
聯絡窗口:林先生03-5773693 #7638
聯絡信箱: yakoai@niar.org.tw