【新增服務】DC驗證站台開放使用
敬啟者
為協助使用者於正式量測前完成DC Bias驗證，縮短量測當日架設及驗證時間，
本中心即日起提供DC驗證站台供使用者預先進行DC驗證。
本驗證站台提供DC Power Supply、Probe Station及相關設備，
可支援COB（Chip on Board）及On-wafer DUT之DC Bias驗證。
COB DUT可直接進行驗證；On-wafer DUT則提供Probe Station，使用者須自備DC Probe並自行完成量測。
首次使用將由工讀生協助說明設備操作方式及設定流程，後續由使用者自行操作。詳細適用範圍、使用
流程及注意事項，請參閱附件說明。
如有相關問題，請聯繫：蔡小姐, 1805010@niar.org.tw, 03-5773693#7736
電子量測技術組敬上
為協助使用者於正式量測前完成DC Bias驗證，縮短量測當日架設及驗證時間，
本中心即日起提供DC驗證站台供使用者預先進行DC驗證。
本驗證站台提供DC Power Supply、Probe Station及相關設備，
可支援COB（Chip on Board）及On-wafer DUT之DC Bias驗證。
COB DUT可直接進行驗證；On-wafer DUT則提供Probe Station，使用者須自備DC Probe並自行完成量測。
首次使用將由工讀生協助說明設備操作方式及設定流程，後續由使用者自行操作。詳細適用範圍、使用
流程及注意事項，請參閱附件說明。
如有相關問題，請聯繫：蔡小姐, 1805010@niar.org.tw, 03-5773693#7736
電子量測技術組敬上
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