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台灣半導體研究中心

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矽光子量測「HF-P01 高頻高速光電量測系統」與「HF-P02 矽光子光學量測系統」預約方式調整,由原預約制改為排單制申請(詳見公告內文),將於8月底開放申請,9月起提供量測服務

公告日期: 2026/08/17

矽光子量測「HF-P01 高頻高速光電量測系統」與「HF-P02 矽光子光學量測系統」預約方式調整,由原預約制改為排單制申請(詳見公告內文),將於8月底開放申請,9月起提供量測服務

敬啟者:

    因應現階段人力配置及內部教育訓練等業務安排,TSRI 將依據現有量能,階段性調整部分研究資源之開放範圍與服務方式,原固定日期預約制將調整為排單申請方式,依申請完成順序及當月服務量能安排。
    TSRI 長期以支援國內學術研究與半導體產學發展為重要任務,研究資源的有效運用,更攸關整體學研能量的延續與累積。面對現階段人力與資源配置上的限制,相關服務將以維持既有品質及整體運作穩定為優先,並於有限條件下持續提供量測服務。初期每月服務量能將以 10 件申請案為原則。若當月申請案件超出可負荷之服務量能將無法接單,敬請申請者於次月重新提出申請,如有特殊狀況,可另案討論。造成不便,尚祈見諒。
    此次調整屬階段性安排,尚祈學研界予以體諒與包容,共同面對當前資源有限的階段。TSRI 將持續檢視人力及資源配置情形,並視整體條件逐步調整服務量能,期能在有限資源下,發揮最大的學研支援效益。
    感謝各界長期以來對 TSRI 的支持與配合,敬請學研夥伴共挺時艱,與 TSRI 共同維繫研究資源的有效運用,攜手支持國內學研發展。
 
※為確保審查效率,附有完整模擬結果與測試架構之申請案將優先處理。
※排單制預約方式可參考本公告附件

預約問題請洽:張小姐03-5773693*7192 or 0304068@niar.org.tw
技術問題請洽:陳先生2113045@niar.org.tw

相關連結
https://bf.tsri.niar.org.tw/bs/Reserve/List?type=2
檔案下載
矽光子設備預約SOP.pdf
檔案下載
附件2_HF-P01_testplan.doc
檔案下載
附件3_HF-P02_testplan.doc
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